Артикул: #929
Описание: Принцип
Приближение острого силиконового наконечника, установленного на консоли, к поверхности образца приводит к межатомным взаимодействиям. Результатом является изгиб консоли, который фиксируется лазерным прибором. В статическом режиме полученное отклонение используется для исследования топографии поверхности образца, линия за линией с использованием цепи обратной связи. В динамическом режиме консоль колеблется на фиксированной частоте, приводя к уменьшающейся амплитуде вблизи поверхности. Параметры измерения (заданная величина, усиление обратной связи, ...) играют важную роль для качества изображения. Зависимость от качества снимков исследуется для различных наноструктурированных образцов.

Задания
1. Установите микроскоп и запустите программное обеспечение. Установите консоль (с наконечником) и подведите наконечник к образцу.
2. Исследуйте влияние параметров сканирования на качество изображения и производительность, например, коэффициент усиления ПИД, заданное значение (сила), амплитуда колебаний и скорость сканирования. Используйте статический и динамический режим.
3. Создайте изображение 7 различных образцов (микроструктур, углеродных нанотрубок, поперечного сечения кожи, бактерии, маркировка CD, структуры ИС, бисера) за счет соответствующей оптимизации параметров.

Что вы можете узнать

Атомно-силовая микроскопия (АСМ)

Потенциал Ленарда-Джонса

Изображение наноструктур

Режим статической силы, режим динамической силы.

Цепь обратной связи, сила, амплитуда колебаний

Производитель: PHYWE Systeme GmbH & Co. KG